產(chǎn)品名稱：維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測(cè)器
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-08-28
產(chǎn)品特點(diǎn)：維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測(cè)器 SDD探測(cè)器廣泛的應(yīng)用于XRF分析儀器制備，科學(xué)研究以及宇宙探索等諸多領(lǐng)域
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測(cè)器FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢測(cè)器（SDD），能夠在保持分辨率的同時(shí)，計(jì)數(shù)率超過(guò)1000000 CPS（每秒計(jì)數(shù)）。FAST SDD還可與C系列（Si3N4）低能窗一起使用，用于軟x射線分析。
與傳統(tǒng)SDD不同，F(xiàn)AST SDD在密封的TO-8封裝內(nèi)使用結(jié)柵場(chǎng)效應(yīng)晶體管（JFET）和外部前置放大器，在TO-8封裝內(nèi)部使用互補(bǔ)的金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）前置放大器，并用金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管（MOSFET）代替JFET。這降低了電容，提供了更低的串聯(lián)噪聲，并在極短的峰值時(shí)間內(nèi)提高了分辨率。FAST SDD使用相同的檢測(cè)器，但前置放大器在短峰值時(shí)間內(nèi)提供較低的噪聲。改進(jìn)的（較低的）分辨率能夠隔離/分離具有接近能量值的熒光X射線，否則峰值將重疊，從而允許用戶更好地識(shí)別其樣品中的所有元素。峰值時(shí)間短也會(huì)提高計(jì)數(shù)率；更多的計(jì)數(shù)提供更好的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測(cè)器特點(diǎn)有：
1. 高計(jì)數(shù)率。由于收集陽(yáng)極的電容極低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升時(shí)間，因而特別適合在高計(jì)數(shù)率的情況下工作。
2. 高能量分辨率。SDD的陽(yáng)極面積小于通常硅PIN器件，由于電容的減小，在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓，提高了其能量分辨率。
3. 可在常溫下工作。SDD的電容和漏電流要比一般探測(cè)器小兩個(gè)數(shù)量級(jí)以上，通常把場(chǎng)效應(yīng)管（FET）和Peltier效應(yīng)器件都整合到一起，這樣儀器在常溫下就能滿足SDD的制冷需求，特別適用于便攜式設(shè)備的現(xiàn)場(chǎng)使用。
根據(jù)國(guó)家地質(zhì)實(shí)驗(yàn)測(cè)試中心的報(bào)告，SDD探測(cè)器從1962年以Si探測(cè)器問(wèn)世以來(lái)，Si-PIN、高純及四葉花瓣型Ge探測(cè)器、Si漂移、SDD等不同性能的探測(cè)器， SDD探測(cè)器在計(jì)算數(shù)與制造工藝的穩(wěn)定性方面取得突破，從而替代復(fù)雜的波長(zhǎng)色散X射線光譜儀的Si-pIN探測(cè)器。
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