微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補(bǔ)性，EC-STM和EC-AFM是對(duì)溶液中樣品表面進(jìn)行原子級(jí)和納米級(jí)成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展現(xiàn)了電化學(xué)過(guò)程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測(cè)、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測(cè)試樣品更接近實(shí)際應(yīng)用情況等特點(diǎn)，適用于分析研究各種實(shí)時(shí)和原位的電化學(xué)反應(yīng)過(guò)程。EC-STM和EC-AFM強(qiáng)調(diào)的是結(jié)果，而SECM注重的是過(guò)程和結(jié)果。
SECM有很多潛在的應(yīng)用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應(yīng)過(guò)程基礎(chǔ)研究、酶穩(wěn)定性研究、生物大分子的電化學(xué)反應(yīng)特性以及微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）等領(lǐng)域。
SVET-SKP系統(tǒng)工作特點(diǎn)：
1．非接觸測(cè)量，不干擾測(cè)定體系；
2. 對(duì)界面區(qū)狀態(tài)的變化敏感，如材料表面和表面膜元素分布，
應(yīng)力分布，界面區(qū)化學(xué)分布，電化學(xué)分布的變化；
3. 測(cè)定金屬、絕緣膜下金屬和半導(dǎo)體電位分布；
4. 10E-12A~10E-1 數(shù)量級(jí)的極弱交流信號(hào)的測(cè)量，測(cè)定裝置必須具
有很高的抗干擾能力；
5．在線（In-situ）圖示樣品微區(qū)電化學(xué)和樣品表面變化過(guò)程等；
6．一維、二維和三維圖示與分析（3D軟件為標(biāo)配）；
7．特別適用液相和大氣環(huán)境下的材料表面和界面的微區(qū)顯微分析。
SVET與SKP系統(tǒng)的結(jié)合
SRET和SVET主要測(cè)量材料在液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應(yīng)過(guò)程；SKP能夠測(cè)量材料在不同濕度大氣環(huán)境下，甚至其它氣體環(huán)境下的微區(qū)特性及其隨環(huán)境變化過(guò)程等。現(xiàn)在公司將用于液體電解質(zhì)環(huán)境下的局部電化學(xué)反應(yīng)過(guò)程的SVET和用于大氣環(huán)境下的SKP技術(shù)有機(jī)的結(jié)合在一起，極大地拓展了您的研究領(lǐng)域，有效地利用資源，降低了您的購(gòu)買費(fèi)用。掃描振動(dòng)參比電極系統(tǒng)是利用振動(dòng)電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測(cè)量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進(jìn)行電化學(xué)活性測(cè)量的特點(diǎn).它可進(jìn)行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應(yīng)力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等）,表面涂層及緩蝕劑的評(píng)價(jià)等方面的研究,掃描振動(dòng)探針（SVET）是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進(jìn)行腐蝕研究的有力工具,它能檢測(cè)小于5uA/cm2的原位腐蝕。
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